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菲希爾熒光射線測厚儀FISCHERSCOPE

菲希爾熒光射線測厚儀FISCHERSCOPE

簡要描述:
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更新時間:2024-06-17

訪問量:1276

廠商性質:經銷商

生產地址:

品牌Helmut Fischer/德國菲希爾價格區間面議
產地類別進口應用領域環保,制藥/生物制藥,綜合

菲希爾熒光射線測厚儀FISCHERSCOPE

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY特性

X 射線熒光儀器可配備多種硬件組合,可完成各種測量任務

由于測量距離可以調節(大可達 80 mm),適用于測試已布元器件的電路板或腔體結構的部件

通過可編程 XY 工作臺與 Z 軸(可選)實現自動化的批量測試

使用具有高能量分辨率的硅漂移探測器,非常適用于測量超薄鍍層(XDAL 設備)

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY應用

鍍層厚度測量:

大型電路板與柔性電路板上的鍍層測量

電路板上較薄的導電層和/或隔離層

復雜幾何形狀產品上的鍍層

鉻鍍層,如經過裝飾性鍍鉻處理的塑料制品

氮化鉻 (CrN)、氮化鈦 (TiN) 或氮碳化鈦 (TiCN) 等硬質涂層厚度測量

材料分析:

電鍍槽液分析


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